3D斜位CT

在传统的垂直 CT 成像中，实现更高的放大倍数对半导体封装 (PKG) 或 SMT 板进行无损 CT 成像具有挑战性，因为观察点无法放置在靠近 X 射线管焦点的位置。 然而，对于3D倾斜CT，将测试件放置在尽可能靠近X射线管焦点的位置，并从倾斜角度进行CT扫描以计算C这种方法能够采集非破坏性、高倍率 CT 图像T数据。